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QCX-30M金相顯微鏡

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昆山毅爾發精密量儀有限公司

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產品簡介

技術參數高品質專業金相物鏡偏光組件及DIC諾曼爾斯基微分干涉襯比系統附件偏振系統包括了起偏鏡插板和檢偏鏡插板，可做偏光檢測，在半導體和PCB檢測中，可消除雜光，細節更去清洗

詳細介紹

技術參數

高品質專業金相物鏡

偏光組件及DIC諾曼爾斯基微分干涉襯比系統附件

偏振系統包括了起偏鏡插板和檢偏鏡插板，可做偏光檢測，在半導體和PCB檢測中，可消除雜光，細節更去清洗。360度旋轉式檢偏器可以在不移動標本的情況下，方便的觀察標本在不同偏振角度光線下呈現的狀態，在正交偏光的基礎上，插入DlC棱鏡，可進行DIC微分干涉相襯觀察。DIC技術可以使物體表面微小的高低差產生明顯的浮雕效果，大幅提高圖像對比度。

采用高性能微分干涉組件，可以將明場觀察下無法檢測的細微高低差，轉化為高對比度的明暗差并以立體浮雕形式表現出來，廣泛用于LCD導電粒子，精密磁盤表面劃痕檢測等領域。

關鍵詞：PC

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