暫無信息 |
18696172880
當前位置：武漢頤光科技有限公司>>產品展示
ME-L 是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了頤光科研團隊在橢偏技術多年的研發投入，其采用行業前沿的創新技術，包括消色差補償器、雙旋轉補償器同步控制...
Mapping系列光譜橢偏儀是全自動高精度Mapping繪制化測量光譜橢偏儀，配置全自動Mapping運動機構，通過橢偏參數、 透射/反射率等參數的測量，快速實...
SR-Mapping反射膜厚儀是超快速薄膜表征儀器，通過分析薄膜表面反射光和薄膜與基底界面反射光相干涉形成的反射光譜，從而測量薄膜的厚度及光學常數。
SR系列膜厚傳感器提供快速、穩定的膜厚在線量測解決方案。
半導體復雜膜層在線量測解決方案。
ME-L 是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了頤光科研團隊在橢偏技術多年的研發投入，其采用行業前沿的創新技術，包括消色差補償器、雙旋轉補償器同步控制...
Mapping系列光譜橢偏儀是全自動高精度Mapping繪制化測量光譜橢偏儀，配置全自動Mapping運動機構，通過橢偏參數、 透射/反射率等參數的測量，快速實...
SR-Mapping反射膜厚儀是超快速薄膜表征儀器，通過分析薄膜表面反射光和薄膜與基底界面反射光相干涉形成的反射光譜，從而測量薄膜的厚度及光學常數。
SR系列膜厚傳感器提供快速、穩定的膜厚在線量測解決方案。
ME-L 是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了頤光科研團隊在橢偏技術多年的研發投入，其采用行業前沿的創新技術，包括消色差補償器、雙旋轉補償器同步控制...
Mapping系列光譜橢偏儀是全自動高精度Mapping繪制化測量光譜橢偏儀，配置全自動Mapping運動機構，通過橢偏參數、 透射/反射率等參數的測量，快速實...
SR-Mapping反射膜厚儀是超快速薄膜表征儀器，通過分析薄膜表面反射光和薄膜與基底界面反射光相干涉形成的反射光譜，從而測量薄膜的厚度及光學常數。
SR系列膜厚傳感器提供快速、穩定的膜厚在線量測解決方案。
半導體復雜膜層在線量測解決方案。
ME-L 是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了頤光科研團隊在橢偏技術多年的研發投入，其采用行業前沿的創新技術，包括消色差補償器、雙旋轉補償器同步控制...
Mapping系列光譜橢偏儀是全自動高精度Mapping繪制化測量光譜橢偏儀，配置全自動Mapping運動機構，通過橢偏參數、 透射/反射率等參數的測量，快速實...
SR-Mapping反射膜厚儀是超快速薄膜表征儀器，通過分析薄膜表面反射光和薄膜與基底界面反射光相干涉形成的反射光譜，從而測量薄膜的厚度及光學常數。
SR系列膜厚傳感器提供快速、穩定的膜厚在線量測解決方案。
半導體復雜膜層在線量測解決方案。
ME-L 是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了頤光科研團隊在橢偏技術多年的研發投入，其采用行業前沿的創新技術，包括消色差補償器、雙旋轉補償器同步控制...
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
掃一掃訪問手機商鋪
以上信息由企業自行提供，信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責，塑料機械網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示：為規避購買風險，建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。