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ECC-Opto-SBS反射模式光學特性測試模塊

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產品簡介

ECC-Opto-SBS反射模式光學特性測試模塊

詳細介紹

ECC-Opto-SBS反射模式光學特性測試模塊

反射模式光學特性測試模塊——電極采用并排排列-可跟不同光譜儀器配套使用


                

通過使用反射模式光學特性測試模塊(ECC-Opto-SBS)待測電極可以到現場在反射模式下被觀察——就像反射模式光學和X-ray特性測試模塊(ECC-Opto-Std)一樣。特別的是反射模式光學特性測試模塊(ECC-Opto-SBS)的電極是并排(“face up")安排,相比傳統的ECC-Opto-Std測量池的面對面電極排列是不同的。這種測量池有它特殊的優勢,具體實例請見文章S. J. Harris, A. Timmons, D. R. Baker, C. Monroe, “Direct in situ measurements of Li transport in Li-ion battery negative electrodes," Chem. Phys. Letters 485, 265 (2010)


特點

·         工作電極對電極并排排列

·         透過藍寶石窗口兩個電極可同時被觀察到

·         矩形電極形狀9.5 mm x 9.5 mm

·         超低泄漏密封與切割環和PE墊圈

·         可重用的電池組件

·         與電解液的接觸材料是不銹鋼和PEEK(致力于質子鋰化學)

·         可精確調整電極邊緣之間的電解液的距離差距

·         參比電極可選

技術參數

·         尺寸:40x 150x 150 毫米(xx)

·         矩形電極尺寸9.5 x 9.5 mm

·         電解液的體積最小到0.2毫升

·         重量90

與此測量池有關的科學文章

·         Yuan-Li Ding, Bee Min Goh, Han Zhang, Kian Ping Loh, Li Lu, 2013. Single-crystalline nanotubes of spinel lithium nickel manganese oxide with lithium titanate anode for high-rate lithium ion batteries, Journal of Power Sources, 236, pp. 1-9

 

 

可選附件

EL-Cut高精度電極切割器

高精度切割器-消除電極邊緣的撕裂和鋸齒

 

     

電化學測量池之所以達到如此高的精度和重復性不單是應為采用了的材料而且是因為采用了的設計和的幾何和力學參數.正確的電極切割也是一個不可忽略的因素.人眼所看不到的電極邊緣的撕裂和不規整,不可避免地導致電流不均勻性,因此有可能會影響實驗結果尤其是生命周期測量和阻抗結果更容易受到加工因素的影響傾.在傳統模式下,電極被沖切導致芯片電極的邊緣不平滑。相比之下, EL-Cut高精度電極切割器提供3個疊加的切割力,切割精度可以到達幾個微米的級別。

特點

·         高精度,很好的消除電極邊緣的撕裂和鋸齒

·         18毫米標準直徑電極尺寸

·         電極厚度300微米

·         其它電極尺寸和形狀可選

技術資料

·         尺寸140x 380x 60毫米(xx)

·         重量2.8公斤

與此產品相關的科學論文

·         Qichao Hu, Antonio Caputo, Donald R. Sadoway – Massachusetts Institute Of Technology, 2013. Rechargeable lithium battery for wide temperature operation, United States Patent ApplicationUS, Kind Code: A1

·         Erk,Ch., Brezesinski, T., Sommer, H., Schneider, R., Janek, J., 2013. Toward Silicon Anodes for Next-Generation Lithium Ion Batteries: A Comparative Performance Study of Various Polymer Binders and Silicon Nanopowders, ACS Applied Materials and Interfaces, 5 (15), pp. 7299-7307

關鍵詞:SBS 光譜儀 PEEK
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