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行業產品

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成都中冷低溫科技有限公司


  • ThermoTST ATC840桌面式快速溫變試驗機

    詳細摘要: (售價僅供參考)ThermoTST ATC840桌面式快速溫變試驗機,接觸式高低溫設備是成都中冷研發的針對芯片可靠性測試的專用設備,通過測試頭與待測器件直接貼合...

    產品型號:所在地:成都市更新時間:2024-12-18 在線留言

  • 桌上型高低溫冷熱臺ATC860

    詳細摘要: (售價僅供參考)桌上型高低溫冷熱臺ATC860,接觸式高低溫設備是成都中冷研發的針對芯片可靠性測試的專用設備,通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現能量傳遞,與...

    產品型號:所在地:成都市更新時間:2024-12-18 在線留言

  • zonglen冷熱臺

    詳細摘要: zonglen冷熱臺,冷熱臺也可以用于實驗室的表征測試,電池溫度測試,樣品溫度測試,以及各種要求快速溫度變化的分析和生產測試應用,冷卻和加熱時間對部件測試的生產...

    產品型號:所在地:成都市更新時間:2024-12-18 在線留言

  • 桌面式高低溫測試儀

    詳細摘要: (售價僅供參考)桌面式高低溫測試儀,接觸式高低溫設備是成都中冷研發的針對芯片可靠性測試的專用設備,通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現能量傳遞,與傳統氣流式高...

    產品型號:所在地:成都市更新時間:2024-12-18 在線留言

  • Thermal Inducing System高低溫氣流儀TS780

    詳細摘要: (售價僅供參考)Thermal Inducing System高低溫氣流儀TS780,溫度范圍-80℃到+225℃,溫度轉換測試能力。溫度轉換從-55℃到+12...

    產品型號:所在地:成都市更新時間:2024-12-18 在線留言

  • HAST測試機Burn-in Chamber高加速老化測試

    詳細摘要: HAST測試機Burn-in Chamber高加速老化測試,試驗箱適用于IC封裝,半導體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等...

    產品型號:所在地:成都市更新時間:2024-12-18 在線留言

  • zonglen高低溫載物臺Thermal CHUCK

    詳細摘要: zonglen高低溫載物臺Thermal CHUCK,是一種用于微電子器件測試的重要設備,也被稱為探針臺載物臺。它可以在高低溫環境下進行微電子器件的測試,因此具...

    產品型號:所在地:成都市更新時間:2024-12-18 在線留言

  • 中冷HAST高低溫試驗箱非飽和度老化試驗機

    詳細摘要: 中冷HAST高低溫試驗箱非飽和度老化試驗機,試驗箱適用于IC封裝,半導體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試...

    產品型號:所在地:成都市更新時間:2024-12-18 在線留言

  • zonglen高低溫載物臺

    詳細摘要: zonglen高低溫載物臺,是一種用于微電子器件測試的重要設備,也被稱為探針臺載物臺。它可以在高低溫環境下進行微電子器件的測試,因此具有高可靠性和高精度。

    產品型號:所在地:成都市更新時間:2024-12-18 在線留言

  • 微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統HAST

    詳細摘要: 微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統HAST,微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統是一種用于評估微波器件在很差條件下的性能和可靠性的測試系統。該系統通過施加高加速偏...

    產品型號:所在地:成都市更新時間:2024-12-18 在線留言

  • 高低溫載物臺CHUCK探針臺卡盤

    詳細摘要: 高低溫載物臺CHUCK探針臺卡盤,是一種用于微電子器件測試的重要設備,也被稱為探針臺載物臺。它可以在高低溫環境下進行微電子器件的測試,因此具有高可靠性和高精度。

    產品型號:所在地:成都市更新時間:2024-12-18 在線留言

  • 高低溫載物臺CHUCK卡盤

    詳細摘要: 高低溫載物臺CHUCK卡盤,是一種用于微電子器件測試的重要設備,也被稱為探針臺載物臺。它可以在高低溫環境下進行微電子器件的測試,因此具有高可靠性和高精度。

    產品型號:所在地:成都市更新時間:2024-12-18 在線留言

  • CAF-HAST CAF測試系統HAST高加速老化試驗箱

    詳細摘要: CAF-HAST CAF測試系統HAST高加速老化試驗箱,CAF測試也叫離子遷移測試,CAF測試是一種用于評估材料中離子遷移性質的實驗方法。該測試通常用于檢測包...

    產品型號:所在地:成都市更新時間:2024-12-18 在線留言

  • 高低溫載物臺Thermo chuck探針臺卡盤

    詳細摘要: 高低溫載物臺Thermo chuck探針臺卡盤,是一種用于微電子器件測試的重要設備,也被稱為探針臺載物臺。它可以在高低溫環境下進行微電子器件的測試,因此具有高可...

    產品型號:所在地:成都市更新時間:2024-12-18 在線留言

  • ECM-HAST CAF測試系統HAST高加速老化試驗箱

    詳細摘要: ECM-HAST CAF測試系統HAST高加速老化試驗箱,CAF測試也叫離子遷移測試,CAF測試是一種用于評估材料中離子遷移性質的實驗方法。該測試通常用于檢測包...

    產品型號:所在地:成都市更新時間:2024-12-18 在線留言

  • zonglen高低溫氣流溫度沖擊系統氣流儀

    詳細摘要: (售價僅供參考)zonglen高低溫氣流溫度沖擊系統氣流儀,溫度范圍-70℃到+225℃,溫度轉換測試能力。溫度轉換從-55℃到+125℃之間轉換約10秒 ; ...

    產品型號:所在地:成都市更新時間:2024-12-18 在線留言

  • HAST高低溫試驗箱非飽和度老化試驗機

    詳細摘要: HAST高低溫試驗箱非飽和度老化試驗機,試驗箱適用于IC封裝,半導體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗,...

    產品型號:所在地:成都市更新時間:2024-12-18 在線留言

  • CAF測試系統HAST高加速老化試驗箱系統

    詳細摘要: CAF測試系統HAST高加速老化試驗箱系統,CAF測試也叫離子遷移測試,CAF測試是一種用于評估材料中離子遷移性質的實驗方法。該測試通常用于檢測包裝材料、食品接...

    產品型號:所在地:成都市更新時間:2024-12-18 在線留言

  • HAST高溫高壓加速老化試驗機

    詳細摘要: HAST高溫高壓加速老化試驗機,試驗箱適用于IC封裝,半導體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗,使用于在...

    產品型號:所在地:成都市更新時間:2024-12-18 在線留言

  • HAST高加速壽命偏壓老化試驗箱

    詳細摘要: HAST高加速壽命偏壓老化試驗箱,試驗箱適用于IC封裝,半導體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗,使用于...

    產品型號:所在地:成都市更新時間:2024-12-18 在線留言

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