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BOWMAN X射線熒光美國膜厚測試儀
- 公司名稱：
- 更新時間：
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- 金霖電子（香港）深圳市金東霖科技有限公司
- 2017-09-24 03:19:49
- 深圳市
- 432
【簡單介紹】
【詳細說明】
.博曼（美國）BA100膜厚測試儀，采用X射線測量原理，對產品進行高精度無損測量，
并且是集中業內水平的測試儀器，.元素范圍鋁13到鈾92。.x射線激發能量50 W(50 kv和1 ma)鎢靶射線管?探測器硅PIN檢測器250 ev的分辨率或更高的分辨率.測量的分析層和元素5層(4層鍍層+基材)和10種元素在每個鍍層成分分析的同時多達25元素，并且在無標準片的情況下，依然能準確讀數與測量。
更多相關技術參數，歡迎您的咨詢
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