x熒光膜厚測試儀能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能*,而且價(jià)錢*.有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn)的情況下進(jìn)行表面鍍層厚度的測量，從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應(yīng)用。分析鍍層厚度和元素成色同時(shí)進(jìn)行,只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測量結(jié)果,多層鍍層的樣品也一樣能勝任.輕巧的樣品室,適合不同大小的樣品,功能實(shí)用,準(zhǔn)確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的*.可測量各類金屬層、合金層厚度。
測量技術(shù)同行15年，在同測量領(lǐng)域風(fēng)蚤，成為膜厚儀*，精準(zhǔn)的數(shù)據(jù)，*的技術(shù)，嚴(yán)格的品質(zhì)要求，可靠、可信、快速的服務(wù)，及一些專業(yè)意見與技術(shù)扶持，值得您的信賴。

x熒光膜厚測試儀性能特點(diǎn)
+ 高效超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到*水平。 
+ 的數(shù)字多道技術(shù)，讓測試更快，計(jì)數(shù)率達(dá)到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好。
+ SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比。 
+ 產(chǎn)品—信噪比增強(qiáng)器（SNE），提高信號處理能力25倍以上。 
+ 低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好。 
+ 智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測試的范圍。 
+ 自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的*性。
+ 高信噪比的電子線路單元。 
+ 針對不同樣品自動切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣。 
+ 解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測元素的測試結(jié)果具有相等的分析精度。
+ 多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制。
+ 內(nèi)置高清晰攝像頭。 
+ 液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然。