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探索“表面形貌測量技術”的發展史
工件表面質量的好壞直接影響其使用壽命和使用性能，隨著科學技術的進步和社會的發展，人們對于工件表面質量的要求越來越高，表面形貌測量技術也隨之快速發展。
1929年，德國的G.Schmaltz首先對表面微觀不平度的參數進行了定量的測量，隨后出現了一些基于機械和光學方法實現信號轉換的表面特征記錄儀器。
1936年，美國的E J.Abbott研制成功*臺車間用的測置表面粗糙度的輪廓儀。
1940年，英國Taylor -Hobson公司研制成功了觸針式表面輪廓測量儀Talysurf。
1970年，Meadows提出了基于光學條紋圖分析原理的測量技術，通過提取條紋圖中的相位信息，從而獲取物體表面形貌。表面測量技術的發展過程由zui初的機械觸針接觸式測量發展到光學非接觸測量，由觸針逐點測量發展到光學多采樣點測量。
1982年，Binning和Rohrer研制成功了世界上*臺掃描隧道顯微鏡(STM)。STM基于量子隧道效應，通過檢測隧道電流來獲取表面形貌，具有*的測量分辨率，能觀察到物質表面排列的單個原子。
1986年，Binning、Quate等人在STM的基礎上發明了原子力顯微鏡(AFM)。AFM的出現，使觀察物質表面的原子形態和排布成為可能，在科學研究和工業生產上有著十分重大的意義。
目前，表面形貌測量方法中，機械觸針式測量、顯微干涉測量和SPM技術在科學研究和工業領域應用。這三種方法都能達到較高的測量分辨率和精度，而且均有性能較好的商用儀器被開發出來。
中圖儀器推出的SJ5701粗糙度輪廓測量儀是一款集成表面粗糙度和輪廓測量的測量儀器；采用進口高精度光柵測量系統、高精度研磨導軌、高性能測力系統、高性能計算機控制系統技術，實現對各種工件表面粗糙度和輪廓進行測量和分析。
SJ5701粗糙度輪廓測量儀主要技術指標：
粗糙度測量：
測量范圍：X軸200mm，Z1軸±80µm /±40µm /±20µm；
示值誤差：±5%；
分辨率：Z1軸0.04µm(±80µm), 0.02µm(±40µm), 0.01µm(±20µm)。
輪廓測量：
X軸：
測量范圍：0～200mm；
示值誤差：±(0.8+2L/100)um，其中L為水平測量長度，單位：mm；
分辨率：0.01um。
傳感器Z1軸：
測量范圍：±25mm；
示值誤差：±(1.6+|2H|/100)um，其中H為垂直測量高度，單位：mm；
分辨率：0.01um。
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