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上海意斯自動化設備有限公司
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用于采集自由曲面的光學式探頭（測量）特點：1.ZEISSDotScan是測量自由曲面和細微結構的
用于采集自由曲面的光學式探頭（測量）
特點：
1.ZEISS DotScan是測量自由曲面和細微結構的；
2.ZEISS DotScan采用色階共聚焦白光探頭，特別適用于測量敏感、柔軟、具反射性或低對比度的表面，因為對于這類表面，
探針或相機傳感器已超過其能力所及，使用 ZEISS DotScan時，具高反射性的表面如膝關節植入物的金屬部件無須注入造影
劑，即可進行掃描，因此，使用此探頭也能區分透明上漆表層和其下方的金屬層；
用途多樣靈活：
1.ZEISS DotScan共有三種探頭尺寸，適用于三種不同的測量范圍：10、3和1mm；
2.探頭可在一次CNC運行期間全自動更換，以適用于不同的表面，或改換其他光學探頭；
3.關節軸每次可移動2.5度，可將ZEISS DotScan調整到垂直于待測量部件；
4.由于ZEISS DotScan 1mm的測量角度是+/-30度，因此更大曲率的部件也能測量，再加上探針的操作模式，使得各種材料都能
毫無問題地從各種角度進行測量；
5.配合使用轉臺，甚至連4軸的測量工作也難不倒ZEISS DotScan；
可兼容的三坐標測量機：
ZEISS ACCURA ZEISS O-INSPECT 蔡司PRISMO
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