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廣州文明機(jī)電有限公司
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JEOL新一代場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡的旗艦機(jī)型。 它繼承了上一代廣獲好評(píng)的性能如的空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等的同時(shí),操作性能極大簡(jiǎn)單化。該設(shè)備不依賴操作者的技能,始終能夠發(fā)揮其性能。
JEOL新一代FE-SEM旗艦機(jī)型。 它繼承了上一代廣獲好評(píng)的如的空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等性能的同時(shí),操作性能極大地簡(jiǎn)單化。 該設(shè)備不依賴操作者的技能,始終能夠發(fā)揮其性能。
主要特點(diǎn):
◇ Neo Engine(New Electron Optical Engine)
新一代電子光學(xué)控制系統(tǒng)Neo Engine(New Electron Optical Engine),是JEOL電子光學(xué)技術(shù)薈萃的結(jié)晶。 它綜合了透鏡控制系統(tǒng)和自動(dòng)化技術(shù),即使改變電子光學(xué)條件,光軸的偏離也極小,大大提高了可操作性及觀察精度。 無論是誰都可以很簡(jiǎn)便地發(fā)揮出儀器原本的功能。
① 提高了自動(dòng)功能
樣品 : 用CP 制備的礦物截面(樹脂包埋) 入射電壓 : 5 kV,檢測(cè)器 : RBED,觀察倍率 : ×100,000
不僅提高了自動(dòng)功能的精度,而且只需要幾秒鐘就可以聚焦。
② 提高了倍率的精度
樣品 : 測(cè)長(zhǎng)用的樣品(MRS5) 入射電壓 : 10 kV, 觀察倍率: ×50,000
大幅度地提高了倍率的精度,而且實(shí)現(xiàn)了高精度測(cè)長(zhǎng)。
③ 能量過濾器更加易用
樣品 : 名片 入射電壓 : 1.5 kV, 檢測(cè)器 : UED, 觀察倍率 : ×3,500
即使大幅度改變能量過濾器的設(shè)定值,視野或聚焦位置基本不會(huì)偏離。
◇ GBSH-S (GENTLEBEAM™ Super High resolution Stage bias mode)
GBSH 是在低加速電壓下提高分辨率的一種方法。 新開發(fā)的GBSH-S可以給樣品臺(tái)施加高達(dá)5 kV的偏壓。 因此,使用GBSH模式不需要使用專用的樣品桿就可以無縫過渡到其他模式。
※GENTLEBEAM™ 通過給樣品施加偏壓,起到了對(duì)入射電子減速,對(duì)出射電子加速的作用。
◇ 新型背散射電子檢測(cè)器 ※ 選配件
采用新開發(fā)的超高靈敏度的背散射電子檢測(cè)器,可以在清晰的襯度下進(jìn)行觀察。 靈敏度比以往的產(chǎn)品提高了很多,特別是在低加速電壓下能得到高襯度的成分像。
舊機(jī)型 新機(jī)型
樣品 : Cu的截面 入射電壓 : 3 kV 觀察倍率 : ×10,000 WD: 4.5 mm
◇ 新型外觀設(shè)計(jì)
外觀設(shè)計(jì)緊湊,大大節(jié)省了安裝空間,可以支持多種安裝環(huán)境。
◇ 新的樣品交換方式
采用新設(shè)計(jì)的樣品交換系統(tǒng)(load lock),操作簡(jiǎn)單了,不僅減少誤操作還提高了通量和耐用性。
◇ SMILENAVI
SMILENAVI 是為初學(xué)者在短時(shí)間內(nèi)學(xué)會(huì)基礎(chǔ)操作而開發(fā)的操作導(dǎo)航系統(tǒng)。 操作人員按照流程,只要點(diǎn)擊圖標(biāo),SEM操作畫面就會(huì)聯(lián)動(dòng),依照提示引導(dǎo)即可操作。
① 強(qiáng)調(diào)操作按鈕
只要將鼠標(biāo)光標(biāo)挪到SMILENAVI的指南鍵上,SEM的GUI上的相應(yīng)鍵會(huì)出現(xiàn)方框。
在SMILENAVI指南里點(diǎn)擊按鍵后,SEM的GUI會(huì)變成灰色來強(qiáng)調(diào)相應(yīng)鍵。
② 顯示照片
在SMILENAVI的指南里點(diǎn)擊按鍵后,會(huì)顯示該按鍵位置的照片。
③ 顯示操作順序的視頻
SMILENAVI的指南里有介紹操作順序的視頻。
繼承了舊機(jī)型的高性能
◇ 浸沒式肖特基 Plus 電子槍
浸沒式肖特基Plus FEG 通過與電子槍和低像差聚光鏡的組合,性能進(jìn)一步得到改善,達(dá)到了更高的亮度。 能有效地收集從電子槍發(fā)射出的電子,即使在低加速電壓下,也能獲得數(shù)pA ~數(shù)10 nA 的探針電流,不用交換物鏡光闌也能進(jìn)行高分辨觀察和快速元素面分布及EBSD 分析。
◇ ACL(光闌角控制鏡)
ACL(光闌角控制鏡)位于物鏡的上方,自動(dòng)優(yōu)化整個(gè)電流范圍內(nèi)的物鏡光闌角。 因此,即使改變探針電流量,也能調(diào)整入射電子的擴(kuò)散,始終可以獲取最小的電子束斑。不管是高分辨觀察還是X 射線分析,對(duì)探針電流的大幅度變化都能輕松對(duì)應(yīng)。
◇ 超級(jí)混合式物鏡 / SHL
JSM-7900F 標(biāo)配了JEOL 開發(fā)的電磁場(chǎng)疊加物鏡 —“超級(jí)混合式物鏡(SHL)",對(duì)任何樣品包括磁性和絕緣材料都能進(jìn)行超高空間分辨率觀察和分析。
◇ 檢測(cè)器系統(tǒng)
能夠同步采集多達(dá)4 種檢測(cè)器的信號(hào)。
標(biāo)配低位檢測(cè)器(LED)和高位檢測(cè)器(UED)。 此外,還可以安裝選配件:可插拔式背散射電子檢測(cè)器(RBED)和高位二次電子檢測(cè)器(USD)。
◇ 高空間分辨率觀察
利用GBSH,即使在極低的加速電壓下也能進(jìn)行高分辨率觀察。
GBSH下,高空間分辨率觀察應(yīng)用
● 氧化物納米材料
● 金屬納米顆粒
◇ 低真空功能 ※選配件
利用低真空功能,即使是絕緣材料也不需要對(duì)樣品噴涂導(dǎo)電層,并且能很容易地進(jìn)行觀察及測(cè)試。JSM-7900F 在低真空下也擁有的空間分辨率。
高倍率下的觀察應(yīng)用
● 玻璃
EDS分析應(yīng)用
● 食品
利用低真空功能,能容易地抑制絕緣材料產(chǎn)生的充放電效應(yīng)。
分辨率 | 1.0 nm (0.5 kV) |
倍率 | ×10 ~ ×1,000,000 |
加速電壓 | 0.01 ~ 30 kV |
探針電流 | 數(shù) pA ~ 500 nA |
檢測(cè)器(標(biāo)配) | 高位檢測(cè)器(UED)、低位檢測(cè)器(LED) |
電子槍 | 浸沒式肖特基Plus場(chǎng)發(fā)射電子槍 |
光闌角控制鏡 | 內(nèi)置 |
物鏡 | 超級(jí)混合式物鏡/SHL |
自動(dòng)功能 | 自動(dòng)聚焦、自動(dòng)消像散、自動(dòng)調(diào)節(jié)亮度、自動(dòng)調(diào)節(jié)襯度 |
大景深模式(LDF) | 內(nèi)置 |
樣品臺(tái) | 全對(duì)中測(cè)角樣品臺(tái) |
樣品移動(dòng) | X:70mm Y:50mm Z:2 ~ 41mm 傾斜軸:-5 ~ 70° 旋轉(zhuǎn):360° |
馬達(dá)驅(qū)動(dòng) | 5軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng) |
樣品交換室 | 直徑: 100mm 高度: 40mm |
抽真空系統(tǒng) | SIP、TMP、RP |
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