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JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡

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更新時間:2024-12-15 12:13:01瀏覽次數:21次

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產品簡介

JEM-ARM300F實現了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配備了JEOL自主研發的球差校正器,加速電壓可達300kV,是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現了高的STEM-HAADF像分辨率。

詳細介紹

  • 實現了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率

  • JEM-ARM300F配備了JEOL自主研發的球差校正器,加速電壓可達300kV,是一款原子級分辨率電子顯微鏡。實現了高的STEM-HAADF像分辨率。

  • STEM-HAADF像的保證分辨率達到了的58pm

  • 采用JEOL自主研發的球差校正器,掃描透射像(STEM像)的保證分辨率可達58pm(300kV,超高分辨率極靴、使用STEM球差校正器時)。

  • ETA校正器 JEOL自主研發的12極球差校正器 ※選配件

  • ETA校正器(Expanding trajectory aberration corrector)是JEOL研發的擴展軌道型12極球差校正器??梢栽谟脩衄F場加裝STEM球差校正器及TEM球差校正器。

  • 強大的冷場發射電子槍HyperCF300

  • 標配了全新設計的冷場發射電子槍,低能散、高亮度電子束能提供高分辨率觀察和分析。

  • 兩種物鏡極靴

  • 為了支持用戶廣泛的需求,研發了兩種各具特點的物鏡極靴。

  • 豐富的選購件

  • 能安裝超大立體角EDS(能譜儀)、EELS(電子能量損失譜儀)、背散射電子檢測器及四種STEM觀察檢測器。

  • 大范圍的加速電壓設置

  • 標配300kV和80kV下的球差校正數據,可選的加速電壓范圍從40KV?300kV,使用范圍極廣。

  • 新開發的真空系統

  • 新的排氣系統達到了的真空度,在原子尺度的圖像觀察和分析中,限度地減輕了對樣品的污染和損傷。

  • 高穩定的鏡筒和樣品臺

  • 整體穩定性高、直徑330mm的鏡筒增加了機械剛度, 在JEM-ARM200F高度穩定的技術基礎之上,把電氣穩定性和對環境的抗干擾能力提高到新高度。

分辨率 300 kV,80 kV
物鏡種類※1 UHR極靴 HR極靴
STEM分辨率(300kV) 使用STEM校正器 0.058nm 0.063nm
TEM分辨率(300 kV) 線分辨率0.05nm 線分辨率0.06nm
使用TEM校正器 非線性信息分辨極限0.06nm 非線性信息分辨極限0.07nm
線性信息分辨極限0.09nm 線性信息分辨極限0.12nm

關鍵詞:電子顯微鏡
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