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Leitz Reference BX 高精度葉片與玻璃測量解決方案

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產品簡介

LeitzReferenceBX作為一個高速掃描解決方案，勝任一些具有行業特點的專業測量任務，例如各種渦輪葉片和風扇葉片的非接觸式檢測或電子行業中智能手機玻璃的檢測

詳細介紹

Leitz Reference BX作為一個高速掃描解決方案，勝任一些具有行業特點的專業測量任務，例如各種渦輪葉片和風扇葉片的非接觸式檢測或電子行業中智能手機玻璃的檢測。它的設計使其能在不影響測量精度的的情況下，以的效率來測量復雜形狀的工件。甚至可以測量傳統檢測方式無法駕馭的非常苛刻的材料，例如碳纖維，玻璃或陶瓷組件。

該系統集成了4軸聯動掃描功能，非接觸式白光傳感器和傳感器自動更換系統，同時該系統還可支持超高精度的接觸式傳感器來測量公差要求嚴苛或非接觸式難以接近的特征。

該機型主要有兩個應用方向：葉片檢測和玻璃檢測。

由于配置了四軸掃描功能，使得Leitz Reference BX 坐標測量機 (CMM) 在一次測量任務中保證高精度的同時，可將潛在的測量時間縮短50%。測頭水平式安裝，對于葉片或者3D玻璃測量，不需要用戶以增加旋轉測座或者降低精度為代價，即可測量所有特征。

提升葉片檢測的效率
在一個檢測周期內，接觸式測量和非接觸式測量各司其職，Precitec S3光學傳感器用于高速測量翼型，而HP-S-X1C固定掃描測頭用于精確檢查榫頭剖面。利用專業的葉片檢測模塊QUINDOS Blade可以簡化葉片前緣半徑、切線、葉型厚度、葉型、葉根和平均外弧線的測量，提高檢測效率。

透明材料厚度測量

屏幕設計和技術的快速發展增強了智能手機的用戶體驗，但也對質量控制提出了挑戰，傳統的2D影像測量方式已不能滿足帶有復雜曲面并且公差要求嚴格的3D玻璃檢測。Precitec S3共聚焦白光傳感器，可以輕松勝任此類傳統測量方式無法解決的測量任務，并且保護敏感表面免受接觸式測量引發的潛在劃傷風險。此外，白光技術可以用于評估材料厚度。利用QUINDOS軟件，測量結果可以顯示為點云、2D剖面或3D色差圖。

技術特點

?花崗石臺面，集成燕尾槽
?具備TRICISION™設計的精密三角梁，使其具有的剛性-質量比，為機械框架提供優異的穩定性和精度表現
?傳感器使用水平安裝方式，便于工件立式測量
?三軸空氣軸承預應力設置，保證機械框架穩定性
?高分辨率光柵系統
?基于光柵系統和工件溫度，自動進行溫度補償，以彌補溫度變化帶來的精度變化
?Leitz Precitec S3 光學傳感器，其共聚焦白光技術非常適用于復雜幾何形狀和透明材質的檢測，在保證精度的情況下，對效率提升明顯。另外，可以用于評估扁平和彎曲透明材料的厚度。
?HP-S-X1C固定式掃描測頭為系統提供了超高精度和出色的探測能力
?標配SENMATION SX全自動傳感器更換系統，可實現Precitec S3和HP-S-X1C兩種測量模式自由切換
?集成內置式轉臺，應用四軸連續掃描技術，提高測量可達性和測量效率，檢測過程無需調整工件姿態和減少更換測針頻次，檢測時間大大縮短。
?配置主動式氣浮減振系統

產品參數