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JED-2300T 能譜儀

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產品簡介

JED-2300T AnalysisStation是以“圖像觀察和分析"為基本理念的TEM/EDS集成系統。在分析數據過程中,自動采集電鏡主機的倍率、加速電壓等參數,進行數據管理。

詳細介紹

  • ◆ AnalysisStation

  • JED-2300T AnalysisStation是以“圖像觀察和分析"為基本理念的TEM/EDS集成系統。在分析數據過程中,自動采集電鏡主機的倍率、加速電壓等參數,進行數據管理。
  • 硅漂移檢測器(以下簡稱SDD)的檢測面積有30mm2、60mm2和100mm2三種。檢測面積越大,檢測靈敏度越高。JEM-ARM200F(HRP)配合使用DRY SD100GV檢測器(檢測面積為100mm2),可同時實現大受光面積和高分辨率, 可以清楚地識別B、C、N、O等輕元素。
  • /static/uploadfiles/20220921/20b46896-ecb0-451c-9f85-d8bfcca24218.jpg

  • ◆ 快速元素面分析

  • DRYSD100GV檢測器的靈敏度,測試Au催化劑顆粒只需一分鐘。
  • /static/uploadfiles/20220921/89469fbc-ac28-4fc7-8bd2-7b1e96334b6c.jpg

  • 上圖: 樣品 負載在Ti氧化物上的Au催化劑顆粒
    裝置: JEM-ARM200F + DRYSD100GV檢測器
    測試時間: 大約1分鐘 
    束流電流: 1nA
    像素數: 256x256像素

  • ◆ 實現原子分辨率的面分析

  • Sr和Ti的原子列被清楚地分離開來。
  • /static/uploadfiles/20220921/f561ef47-f9fb-4ed7-a9aa-bf7330bc15c9.jpg

  • 上圖: 樣品 SrTiO3<100>
    裝置: JEM-ARM200F + DRYSD100GV檢測器
    測試時間: 大約10分鐘
    束流電流: 1nA
    像素數: 128x128像素

  • ◆ play Back(回放)功能

  • 用JEOL制造的EDS采集的元素面分布圖,不僅保存了每一幀中各個像素點的譜圖,還對每一幀中電子束形成的圖像進行了存儲。利用play back功能,可以進行多角度的分析如觀測譜圖等隨時間的變化等。測試后數據能夠回放,可以觀察到樣品按時間順序發生的變化,這是至今為止無法實現的。此外,利用play back功能還可以截取任意的畫面。
  • /static/uploadfiles/20220921/eb81625b-219d-471b-b3ea-071eef3fff7f.jpg

  • 上圖: 裝置 JEM-2800+DRYSD100GV檢測器
    樣品: 巖鹽
    像素數: 128x128
    提取的幀號: 398幀s

透射電子顯微鏡

  • SightSKY Camera 光纖耦合CMOS相機
  • CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) 場發射冷凍透射電子顯微鏡
  • JEM-2100 時間分辨電子顯微鏡及相關附件
  • JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型電子顯微鏡
  • JEM-ACE200F 高效分析型電子顯微鏡
  • JEM-Z300FSC 場發射冷凍電子顯微鏡
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  • JEM-Z200FSC 場發射冷凍電子顯微鏡
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  • EM-05500TGP TEM斷層掃描系統
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  • JEM-2100Plus 透射電子顯微鏡
  • JEM-1000 超高壓透射電子顯微鏡
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  • JEM-ARM300F GRAND ARM 透射電子顯微鏡

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