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濟南蘭光機電技術有限公司
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Labthink蘭光研發生產的CHY-CA測厚儀,采用機械接觸式測量方式,嚴格符合標準要求,有效保證了測試的規范性和準確性。專業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。設備分辨率高達0.1微米,配置的自動進樣系統,使用戶可自行設置進樣步距、測量點數和進樣速度,大大提高了薄膜厚度測試效率。
ITO薄膜是一種n型半導體材料,具有高的導電率、高的可見光透過率、高的機械硬度和良好的化學穩定性。它是液晶顯示器(LCD)、等離子顯示器(PDP)、電致發光顯示器(EL/OLED)、觸摸屏(TouchPanel)、太陽能電池以及其他電子儀表的透明電極zui常用的薄膜材料。ITO薄膜是一種很薄的金屬薄膜,在透明導電薄膜方面得到普遍的應用,具有廣闊的前景。但薄膜的厚度是否均勻直接關系到企業的生產成本控制,所以對ITO薄膜厚度的高精度測量,是企業必須重視的檢測項目之一。
Labthink蘭光研發生產的CHY-CA測厚儀,采用機械接觸式測量方式,嚴格符合標準要求,有效保證了測試的規范性和準確性。專業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。設備分辨率高達0.1微米,配置的自動進樣系統,使用戶可自行設置進樣步距、測量點數和進樣速度,大大提高了薄膜厚度測試效率。
ITO薄膜測厚儀技術特征:
測試范圍:0~2mm(常規);0~6mm;12mm(可選)
分辨率:0.1μm
測量速度:10 次/min (可調)
測試壓力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(紙張)
接觸面積:50 mm2(薄膜);200 mm2(紙張)
注:薄膜、紙張任選一種;非標可定制
進樣步距:0~1000 mm
進樣速度:0.1~99.9 mm/s
以上【ITO薄膜測厚儀】信息由濟南蘭光機電技術有限公司發布,如欲了解更詳細信息,垂詢!
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