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貝士德儀器科技（北京）有限公司
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閱讀：260發布時間：2022-9-8
在深的吸附勢阱中，對低相對壓下的分子就具有相當強的捕捉能力，表現為I型吸附等溫線，這是由于微孔內相對孔壁吸附勢的重疊從而引起低相對壓力下促進的微孔充填(Micropore Filling)。初看起來微孔充填與毛細凝聚有些類似，但實際上微孔充填是取決于吸附分子與表面之間增強的勢能作用的微觀現象，而毛細凝聚則是取決于吸附液體彎液面(Meniscus)特性的宏觀現象，兩者應區別對待；另外對于極性分子和表面官能團作用的情形，應考慮除Lennard-Jones相互作用勢以外的其它相互作用[9]。 Fig．1-8 10-4-3 Potential of nitrogen in slit-like pores (Here，the zero point of z as the center of pores) 圖1-8狹縫型孔隙中氮的吸附勢(零點Z看作孔隙中心) 這種吸附力場的改善已經由高的吸附等容熱提供了實驗證據[37,38]；同時Everett和Powl[39]通過理論計算表明，在小于兩個分子直徑的狹縫型孔隙內以及在小于六個分子直徑的圓形孔隙內會引起吸附勢的增強；Gregg和Sing等表明這種改善效應可以在比Everett和Powl所預測的孔徑更大的孔隙內發生[11]。 正是由于納米空間內分子間相互作用的增強，不僅使固體-吸附質之間的相互作用增強，而且使吸附質-吸附質之間的相互作用改善，這就使得對于吸附在納米空間的物質表現出一些特異的現象[40]。用α-FeOOH改性的ACF通過鐵氧化物的化學助吸附(Chemisorption-Assisted)表現為對NO較高的吸附容量(303K，300mg／g)，可以形成NO的二聚體(NO)_2，而且該二聚體相當穩定。在與SO_2共存的條件下，NO會發生如下歧化反應生成N_2O：3(NO)_2=2N_2O+2NO_2,而該反應在通常條件下只有在高壓下才得以進行[8，41]。Kaneko[7]假設在納米空間吸附的分子形成的分子簇(Molecular Clusters)為液滴，這時，液滴周圍的蒸氣與液滴之間的壓差△P由Young-Laplace方程計算，液滴的大小與表面張力γ之間存在如下關系：△P = 2γ／r_m，r_m是液滴、蒸氣界面的曲率半徑，代表液滴大小。當液滴為lnm時，在納米空間中的水受到約相當于1400atm的壓力，對于相似條件下的液氮則受到約相當于200atm的壓力，由此吸附在納米空間內的分子可以看成是處于高壓環境之中。 不僅納米空間內的分子簇會形成特定的結構，在吸附的同時，吸附劑的固體結構也會發生變化。當沸石(Zeolite)上發生氮吸附時，沸石晶態的對稱性發生改變，而活性炭上發生氮吸附時，其結構單元微晶石墨的層間距會變小。所有這些都表明吸附質分子間的相互作用也非常強。納米空間的分子場，有可能會發現一些新的分子功能[8，41,42]。 實際上由于孔隙的微觀性以及納米尺度(分子級)的原因，要想對孔隙的起源作較為理想的闡明非常困難。Dubinin[43]認為炭質吸附劑中含有各種不同尺寸的孔隙，的孔隙甚至可以用光學顯微鏡觀察出。要想提供有關孔隙的直接證據目前較為*的分析儀器主要有掃描隧道顯微鏡(STM-Scanning Tunnel Microscopy)、透射電子顯微鏡(TEM-Transmission Electric Micros-copy)、原子力顯微鏡(AFM-Atom Force Microscopy)等。Illinois大學以Economy[44]為首的研究小組通過STM建立了一套較為完整的ACF數據庫，共包含有800多張圖片。由STM照片可以清晰的看到ACF表面和端面上孔隙結構的差異，以及不同尺度的孔隙，進一步由STM照片可以看出在不同位置由于刻蝕程度的差異而形成不同的孔隙；當然由此也可推斷孔隙的發展歷程。 圖1-9所示為用于表征不同孔徑的方法及其簡單機理。壓汞法主要用來表征大孔區域和大部分中孔區域的孔隙。該法利用液態Hg在200MPa高壓下壓入孔體系，所填充的容積是壓力的函數。中孔的容積和分布可以由毛細凝聚的蒸氣吸附來進行表征，有關蒸氣凝聚的壓力與孔隙的半徑密切相關。這些方法都利用了吸附凝聚的密度與其液相密度相一致的假設，但實際上按照t法，所形成的吸附膜其吸附相密度與正常的凝聚相密度之間存在一定的差異[19]。 在微孔范圍的孔隙填充可以用基于Polanyi勢能理論的Dubinin方程來表達：W = Woexp[-(A／βEo)~n]。此處，W是吸附量；A=RTLn(Po／P)代表Polanyi的吸附勢(吸附相與平衡氣體間的自由能變化)；Wo為微孔容積；Eo為特征吸附能，是依賴于微孔結構的參數；β是由表面-分子間相互作用所決定的系數，被稱為親和系數(β = 1，以苯為標準)；n為指數(1～3)。n = l時對應孔徑分布較寬的炭質吸附劑，n = 2時對應孔徑分布較窄的炭質吸附劑，n = 3時對應特別結構的CMS[3，19,45～47]。從Dubinin方程解析可以獲得吸附模式、細孔體積以及吸附熱等有關信息。依據特征吸附能Eo可以推測細孔直徑，還可進一步算出微孔范圍內的孔徑分布。Marsh[45]認為通過Dubinin方程對吸附等溫線進行分析可以提供一些非常有價值的信息。由于極微孔的尺度與吸附質分子大小具有幾乎相同的量級，故而吸附質分子要想穿透整個孔隙比較困難，尤其在較低的溫度和較低的相對壓力下，表現更加明顯。這是受被稱之為活性擴散控制的結果，如前所述活性擴散類似于化學反應需要一活化能，隨著溫度的升高以及相對壓力的增加，吸附速率呈指數增加。這些小的孔隙對小于其尺度的分子表現出吸附而對大于其尺度的分子表現為不與吸附，呈現出狹義的篩分效應。實際上不僅這些小的孔隙，只要吸附質分子的有效直徑大于吸附劑孔口尺寸，就應表現出篩分效應[16,31，19,45]。利用活性擴散可以對尺寸較小的孔隙如極微孔進行分析。 另外常用于表征微孔孔隙的方法還有比較作圖法，該法將吸附等溫線與標準等溫線(通常是表面化學組成相類似的非孔性固體的吸附等溫線)進行比較。實際上前面提及的t法也是一種比較法，但由于t法在微孔體系中的實用性受到質疑，目前α_s法正成為主流[3]。α_s法是Sing和Gregg[11]提議的用于細孔性固體的解析方法。α_s值定義為標準等溫線上各相對壓力下的吸附量除以P／Po = 0．4時標準物的吸附量(W_(P/Po=0.4))而得的比值，即α_s = W／W_(P/Po=0.4)，將P／Po變換為α_s表示，這樣試樣的吸附等溫線就可與標準等溫線進行比較[48～52]。特別是由Kaneko等[50～52]提議的從低α_s值范圍獲得的高分辨α_s法是對微孔固體孔隙解析非常有效的方法，圖1-10所示為具有代表性的α_s圖[51，52]。 Fig．1-10 Various α s-plots 圖1-10不同類型的α -圖 平坦表面(包含大孔表面)、中孔以及微孔其α_s圖各不相同。一般來講隨著大孔性、 中孔性固體向微孔性固體偏移，其吸附容量增加。中孔的毛細凝聚、微孔的容積充填(F偏離F-Swing)以及協同的微孔充填(C-偏離C-Swing)出現在圖1-11的上部，由此可以對孔隙的尺度進行簡單的判定。微孔型固體的α_s圖可分為：F偏離的F型、C偏離的C型以及兩種偏離共存的FC型。F型一般認為其孔徑寬度在0．7nm以下，由于受極微孔內強的分子場的影響，在比平坦表面吸附更低的分壓下就發生了單分子層吸附；C型可以看作是在單分子“涂層"(即孔壁上的單層吸附)之外的殘余空間內發生的促進吸附，其孔徑大于1．4nm；表現為FC型的吸附劑孔徑范圍在．7nm到1．4nm之間。從α_s圖高壓端引出的外推直線的截距給出微孔容積，其斜率給出外表面積；而從原點引出的直線的斜率可獲得全表面積，與全表面積相比外表面積非常小時，高壓端外推直線的斜率趨近于0。樣品的比表面積可依據與標準等溫線的α_s圖的斜率的比值計算得出，即：a~(Sample) = Slope~(Sample)X(a~(Ref.)／Slope~(Ref.))，其中，a表示比表面積；上標Ref．表示參考的標準樣；Sample表示試樣。上式中()內的數值為一常數，當W的單位為mg/g，表面積的單位為m~2／g時，該常數為1．75，由試樣α_s圖的斜率即可算出樣品的表面積。綜上所述，由α_s圖的形狀可以推測吸附模式，確定正確的細孔容積及表面積。
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