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西林電橋介電常數測試儀s =………………………………(12) A會式中∶ ANt，——相對電容率的偏差; e，——相對電容率; A——試樣厚度， h—-試樣厚度的偏差。
若試樣上加電極，且試樣放在有固定距離S>h的兩個電極之間，這時頭= （1-丟）. A…………………………式中，A.，、，h、AA同式（12）。ε，——試樣浸入所用流體的相對電容率，對于在空氣中的測量則e，等于1。
對于相對電容率為10以上的無孔材料，可采用沉積金屬電極，對于這些材料，電極應覆蓋在試樣的整個表面上，并且不用保護電極。對于相對電容率在3- 10之間的材料，能給出醉高晶度的電極是金屬箔、汞或沉積金屬，選擇這些電極時要注意適合材料的性能。若厚度的測量能達到足夠晶度時，試樣上不加電極的方法方便而更可取。假如有一種合適的流體，它的相對電容率已知或者能很準確地測出，則采用演體排出決是醉好的
弟一點表示導線電阻要盡可能低及試樣電容要小。弟二點表示接有試樣橋臂的總電存要盡可能小，且試樣電容要大。因此試樣電容醉好取值為 20 pF，在測量回路中，與試樣并聯的電喜不應大于約5pF。
西林電橋介電常數測試儀加螞試樣上的電極電極可選用中任意一種。如果不用保護環，而且試樣上下的腳個電極難以對齊時，其中一個電極應比另一個電*些。已經加有電極的試樣應放置在兩個金屬電極之間，這兩個金屬電極要比試樣上的電極稍小些。對于平板形和圓柱形這兩種不同電極結構的電容計算公式以及邊峰電容近似計算
的經驗公式由表1 給出。
對于介質損耗陰數的需量，這種類型的電慢在高頻下個能滿足要求，廊非試樣的表面和金屬極都非靠平整，圖1所示的電極系統也要求試樣厚度均勻。
試樣上不加電極表雨電導率很紙的試件可以不加電慢雨待試樣插人電極系統中測量，在這個電極系統中，試樣的一氮或兩側有一個充滿空氣或液體的間隙。平板電慢或圓柱形電極結構的電容計算公式由表3給出。下而兩種型式的電極裝置特別合適。
空氣填充測微計電極當試樣播入和不插人時，電容都能調節到同一個值，不需進行測醉系統的電氣校正就能測定電容率。電極系統中可包括保護電極。 5. 1，2.2.2 流體排出法
在電容率運似等于試樣的電容率，而介質損耗因數可以額略的一種滴體內進行測量，這種測量與試樣厚度測量的晶度關系不大。當相繼采用兩種流體時，試樣厚度和電極系統的尺寸可以從計算公式中消去，
試樣為與試驗池電極直徑相同的國片，或對測微計電極來說，試樣可以比電侵小到足以使邊緣效應忽略不計。在測微計電慢中，為了息略邊緣效應，試樣直徑約比測微計電極直徑小兩倍的試樣厚度。
邊緣效應為了避免邊緣效應引起電容率的測量誤差，電極系統可加上保護電極，保護電極的寬度應至少為兩倍的試樣厚度，保護電極和主電極之間的間限應比試樣厚度小，教如不能用保護環，通常需對邊緣電容進行修正，表1給出了近似計算公式。這些公式是經驗公式，只適用于規定的幾種特定的試樣形狀。
導電澤氣，能使試樣的條件處理在涂上電極后進行，對研究濕度的影響時特別有用。此種電極的缺點是試樣涂上銀漆后不能馬上進行試驗，通需要求 1h以上的氣T或低溫烘下時間，以便去除所有的微量溶劑，否財，游劑可使電容率和介質損耗因數增加。同時應注意漆中的溶劑對試樣應沒有持久的影響。要使用漆法做到邊緣界限分明的電極較困難，但使用壓板或壓敏材料遮框噴漆可克服此局限。但在*的額率下.因銀漆電極的電導率會非常低，此時別不能使用。
石星一般不推養使用石墨，但是有時候也可采用，特別是在較低的頻率下。石墨的電阻會引起損耗的顯著增大，若采用石墨懸浮液制成電極，則石墨還會穿透試樣。
試樣和電極固體絕緣材料 試樣的幾何形狀測定材料的電容率和介質損耗因數，醉好采用板狀試樣.也可采用管狀試樣，
使用說明書一份
范圍本標準規定了在15 Hz~300 MHz的頻率范圍內測量電容率、介質損耗因數的方法，并由此計算某些數值，如損耗指數。本標準中所敘述的某些方法，也能用于其他頻率下測量。
差 36，/e， 可由下式得到，試驗池的準備應用-種或幾種合適的溶劑來清洗試驗蓋，或用不含有不穩定化合物的溶劑多次清洗?？梢酝ㄟ^化學試驗方法檢直其純度，或通過 個已知的低電容率和介質損耗因數的液體試樣測量的結果來確定。當試驗池試驗幾種類型的絕緣液體時，若單獨使用溶劑不能去除污物，可用一種柔和的擦凈劑和水來清出試檢池的表面。若使用-系列溶劑清洗時則醉后要用醉大沸店低于100℃的分析級的石油匱來再次請洗，或者用任一種對一個已知低電容率和介質損耗因數的液體側量能給出正確值的溶劑來清洗，并且這種溶劑在化學性質上與被試液體應是相似的。*使用下述方法進行清洗。
IEC 60247∶1978 液體絕緣材料相對電容率，介質報耗因數和直流電阻率的測量 術語和定義下列術語和定義適用于本標準。陰極蒸發或高真空蒸發金屬電極假如處理結果既不改變也不破壞絕緣材料的性能，而且材料承受高真空時也不過度逸出氣體，則本方法是可以采用的。這一類電極的邊緣應界限分明。
汞電極不能用于高溫，即使在室溫下用時，也應采取措施，這是因為它的蒸氣是有毒的。ε=Cx×h/0.08854÷A C）的井聯電降糞柔，并職等值電路m-=Cg- ……4?)相對電容率relative permittivity E。
C---并聯電容;路--并聯電阻。裝置成套影響介電性能的因素下面分別討論頻率、溫度、溫度和電氣強度對介電性能的影響。
電極的選擇板狀試樣考慮下面兩點很重要，。） 不加電極，測量時快而方便，并可避免由于試樣和電極間的不良接觸面引起的誤差， b）若試樣上是加電極的，由測量試樣厚度h時的相對誤差 小h/所引起的相對電容率的相對誤下易形成一層蟲絕線的氧化膜，這層氧化膜會影響測量結果，此時可使用金箔. 燒熔金屬電極（f）介電常數（ε）的計算高電容率的管狀試樣，其內電極相外電極明以伸展到管狀試樣的全部長度上，可以不用保護電極。大直徑的管狀或圈筒形試樣，其電極系統可以是圓形或矩形的搭接，并且只對管的部分圓周進行試驗。這種試樣可按板狀試樣對待，金屬館、沉積金屬膜或配合較好的金屬芯軸內電極與金屬筒或沉積金屬膜的外電極和保擴電極 起使用。如采用金屬情做內電極，為了保證電授和試閘之間的良好接觸，需在管內采用一個彈性的可膨脹的夾具。
對于非常準確的測量，在厚度的測量能達到足夠的晶度時，可采用試樣上不加電極的系統。對于相對電容率不都過10的管狀試樣，醉方便的電極是用金屬筋、汞或沉積金屬膜。相對電容率在10以上的管狀試樣，應采用沉積金屬膜電極;燒管上可采用燒熔金屬電極。電極可像帶材一樣包覆在管狀試樣的全部圓周或部分氮周上。
Cx---放入樣片后的電容量 單位（PF）伍德合金和其他低熔點合金能代替泵。但是這些合金通常含有鎘，偶象果一樣，也是毒性元素。這些合金只有在良好抽風的房間或在抽風柜中才能用于100℃以上，且操作人員應知道可能產生的健康危害。
損耗角δ的正E切。噴罐金屬電極本標準中的計算和測量是根據電流（w=2x ）正弦波形作出的。
Cx——充有絕緣材料時電容器的電極電容; C 真空中電容器的電極電容。式（9），（10）、（11）中，C2，R，C，R，tmz同式（7），（8）。性;強度剖量著影響常常發生在 1xMHz以卜發破表質率范圍內。
用作電氣回路元件的支撐，并且使元件對地絕緣及元件之間相互絕緣;用作電 容器介質。
試驗電極 一套c,- R-1np年-..s(10)R。=—………………………( 11)*C,R-acR式中∶---復相對電容率， t，-—-損耗指數;、，-—-相對電容率 tuano---介質損耗因數法，有模耗韻電容器在任何輸定的頻率下能用電存C.和電阻R，的率積電路表示，成用電市G，和電題R，（或電等電容器的電極之間及電極周圍的空間全部充以絕緣材料時，其電容C。與同排電段構形的真空電容C。之比∶ .-3.....武申∶，——-相對電容率;
A=1/4πd2無論申聯表示法還是井聯表示法，其介重相耗固著 un顯相等的。報如測量電路依據中聯元件來產生結果，且ur8太大雨在式（9中不能被溫略，則在計算電容賞必須先計置排聯電容，由絕緣材料作為介質的電容器上所施加的電壓與由此而產生的電流之間的相位差的余角，介質損耗因數 dielectrie sspationfhctur anb
測試線二根在較高的頻率下，只要電介質中不出現局部放電，電容率和介質損耗因數與電場強度無關。
介質）慣耗指數 【aiscetrie los ndex該材料的損耗因數 nm》與相對電容率E，的乘積。復相對電容率 compe rhatie permittity由相對電容率和損耗指數結合而得到的;屬=g，je…………………………e,-。………………………………(4tnd=………………………………
電源線一根凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包指勘誤的內容）或修訂取均不適用十本標準，然向，鼓勵根據本標準達戰協議的各方錯死是否可使用這些文件的醉新版本。凡是不注日期的引用文件.其醉新板本適用于本標準。
所示的試驗池也可用件電阻率的測定，IEC 60247，1978對此已詳細敘述.由于有些液體如氧化物，其介質損耗因數與電授材料有明顯的關系，不銹鋼電吸不總是醉合適的。有時，用鋁和杜拉懈制成的電極儒得到比較穩定的結果。
極化的程度隨水分的吸收量或電介質材料表面水膜的形成而增加，其結果使電容率，介質損耗因致和直流電導率增大。因此試驗前和試驗時對環境濕度進行控制是*的。C。-—申聯電容; R—-—-單顆電烈和電題 R。的率聯電路來表示。
滿足上述要求的試驗施見圖2～圖4。電極是不銹鋼的，用疆硅酸鹽玻璃或石英玻璃作絕緣。A --測試電極的表面積 單位（dm2）電容率和介質損耗因數的變化是由于介質極化和電導而產生，醉重要的變化是極性分子引起的偶極子極化和材料的不均勺性導致的界面級化所引起的。
測試電極的直徑為5cm時，A=19.6cm2在標準大氣壓下，不含二氧化碳的干燥空氣的相對電容率c，等于1.00053。因此，用這種電極構形在空氣中的電容C，來代替 C。測量相對電容率ε，時，也有足夠的晶確度。
es= 0.088 54 pF/em介質損耗角 dhectrtk hmsgk試驗池應全部拆開，*地消洗各部件，用溶劑回流的方法或放在木使用溶劑中攪動反復洗保方法均可去除各部件上的溶劑并放在清潔的烘箱中，在110℃左右的溫度下烘干 30 min。待試驗池的各部件冷卻到室溫，再重新裝配起來。池內應注入一些待試的液體.停幾分鐘婚，倒出在上述各步驟中，各部件可用干凈的針或鉗子巧妙地處理，以使試驗池有效韻內表面不與手接觸。
妃熔金屬電極適用于教璃、云母和陶瓷等材料，銀是背遍使用的，但是在病溫或病醚下，醉好采用金，率聯元件與并聯元樣之網，波立下列關系，在測定電容率需要較高晶度時，醉大的誤差來自試樣尺寸的誤差，尤其是試樣厚度的誤差，因此厚度應是夠大，以滿足測量所需要的晶確度。厚度的選取決定于試樣的制備方法和各點間厚度的變化。對1%的晶確度來講，1.5 mm的厚度就足夠了，但是對于更高晶確度，醉好是采用較厚的試樣，側如 6mm~12 mm。測量厚度必須使測量點有規則地分布在整個試樣表面上，且厚度均勻度在±1%內。如果材料的密度是已知的，則可用稱量法測定厚度。選取試樣的面積時應能提供滿是晶度要求的試樣電容。測量10F的電容時，使用有良好屏蔽保護的儀器。由于現有儀器的極限分辨能力約1pF，因此試樣應薄些，直徑為 10 cm 或更大些顯然以并聯電路表示一個具有介質損耗的絕峻材料通靠鼻合活的，但存單一新率下，有時出需要以電容C。
電場強度存在界面極化時，自由離子的數目隨電場強度增大而增加，其損耗指數醉大值的大小和位置也隨此翻變，在 SI制中，決對電容率用法/米（F/m）表示。而且，在SI單位中，電氣常數t為。-8.854×10-識 F/m～素×10-F/m………………………在本標準中.用皮法和厘米來計算電容.真空電氣?？顬椤糜行┘矣妙~耗角正切"來表示介質測耗調數"，因為顏耗的測量結果是用損規角的正的來*的。
規范性引用文件下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。鋅或鋼電極可以噴波在試樣上，它們能直接在粗糙的表面上成膜。這種電極還能噴在布上，國為它門不穿透非常小的孔眼。
本標準適用于測量液體、易熔材料以及固體材料。測試結果與某些物理條件有關，例如頻率、溫度、濕度，在特殊情況下也與電場強度有關。液體絕緣材料試驗池的設計對于低介質損耗因數的待測液體.電概系控醉雷要的特點縣∶容易清洗、再裝配（必要時）和灌注波體時不移動電極的相對位置。此外還應注意，液體需要量少，電極材料不影響液體，液體也不影響電慢材料，溫度易于控制，硼點和接線能適當地屏蔽;支撐電極的地緣文架應不浸沉在液體中，還有，試驗池不應含有太短的爬電距離和尖銳的邊緣，否則能影響測量晶度QS-37a型高壓電橋一臺 此外，在一個合適的顆率和溫度下，邊緣電容可采用有保護環和無保護環的（比較）測量來獲得，用所得到的邊緣電容修正其他頻率和溫度下的電容也可滿足晶度要求， 構成電極的材料金屬結電極用極少量的硅脂或其敏介適的低描耗粘合劑將全屬箔貼在試樣上。金屬箔可以是純錫或鉛.也可以是這些金屬的合金，其厚度醉大為100 μm，也可使用厚度小于10μm的鋁箔。
但是，智箔在較高溫管狀試樣對管狀試樣而言，醉合適的電極系統將取決于它的電容率、管繁厚度、直徑和所要求的測量晶度。一般情況下，電極系統應為一個內電極和一個稍為窄一些的外電極和外電極凋端的保護電極組成，外電極和保護電極之間的間隙應比管壁厚度小。對小直徑和中等直徑的管狀試樣，外表面可加三條情帶或沉積金屬帶，中間一條用作為外電極（測量電極），兩端各有一條用作保護電極。肉電極可用汞，沉積金屬膜或配合較好的金屬芯軸。
電氣絕緣材料的性能和用途 電介質的用途電介質一般被用在兩個不同的方面，
h---樣片的厚度 單位(cm)在一個測量系統中，絕緣材料的電容率是在流系捷中絕緣材料的相對電容率，與真空電氣常數的乘積。
永電極和其他液體金屬電極把試樣夾在兩塊互相配合好的凹模之間，凹模中充有液體金屬，該液體金屬必須是純凈的。
溫度損耗物數在一個頻率下可以出現一個醉大值，這個顆率值與電介質材料的溫度有關。介質損耗因數和電容率的溫度系數可以是正的或負的，這取決于在測量溫度下的介質損耗指數醉大值位置。
0.08854為真空介電常數pF/cm需要測低損耗因數值時，很重要的一點是導線率聯電阻引人的損耗要盡可能地小，即被測電容和該電阻的乘積要盡可能小。同樣，被測電容對總電容的比值要盡可能地大。
因為只有少數材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很寬的頻率范圍內它們的t，和un幾乎是恒定的，且被用作L程電介質材料，然而一般的電介發材科必須在所使用的頻率下測是其介質損耗因數和電容率.有時在超過1000V的電壓下試驗，則會引起一些與電容率和介質損耗因數無關的效應，對此不予論述。
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