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不僅做動態(tài)老化,還具備DUT(受測器件:Device Under Test)的輸出信號監(jiān)視功能。用這個功能對DUT的動作進行監(jiān)視,防止篩選漏網(wǎng),主要試驗對象為SDRAM,SRAM等內(nèi)存類,CPU,ASIC,系統(tǒng)LSI等邏輯裝置,也對應各種MOS形的IC。 更多詳細信息請瀏覽以下:
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更新時間:2019-12-24 14:09:44瀏覽次數(shù):435
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不僅做動態(tài)老化,還具備DUT(受測器件:Device Under Test)的輸出信號監(jiān)視功能。用這個功能對DUT的動作進行監(jiān)視,防止篩選漏網(wǎng),主要試驗對象為SDRAM,SRAM等內(nèi)存類,CPU,ASIC,系統(tǒng)LSI等邏輯裝置,也對應各種MOS形的IC。 更多詳細信息請瀏覽以下:
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