Leitz Reference Xi – “Xi” 代表著系統(tǒng)具備充分的“靈活性”。 將Leitz高性能的掃描技術應用于新型Leitz Reference Xi,提供了豐富的測量選擇:從連接自動旋轉測座的HP-S-X1掃描探測系統(tǒng),到配備固定式掃描探測系統(tǒng)HP-S-X3C 一直到HP-S-X5 HD,能夠在配備加長探針的情況下保持高精度。 在各種配置下提供一如既往的高精度 - 無論是分度還是固定式探測系統(tǒng)。通過配備支持多測頭的控制器,Leitz Reference Xi系列測量機還能夠配備激光掃描測頭、接觸式粗糙度測頭,實現微觀尺寸評定。這些不同形式的測頭傳感器可以通過SENMATION多測頭平臺整合在一臺Reference Xi 上隨時取用,實現在各種環(huán)境下的高精度、全自動、復合式靈活測量。
技術特點
1. 整體占地面積小、高度低——適合安裝于狹小空間。
2. TRICISION技術——三角形橫梁截面較傳統(tǒng)設計剛性提高25%,X向軌道重心降低50%,提高了尺寸測量穩(wěn)定性和精度。
3. 采用計算機輔助設計技術,如有限元分析(FEA)和模塊分析——使整機結構在偏移、震動和運動過程中保持。
4. 工作臺無側墻——方便工件裝載,可無限制接近工作區(qū)進行測量。
5. 優(yōu)化彈性振動系統(tǒng),具備“可變剛性”——可隔絕周圍震動。
6. 高性能伺服電機及同步帶驅動——保證加速度和定位精度
7. 精密加工橢圓齒型鋼絲增強同步帶——減少在高速掃描情況下的震動。
8. 完善的安全與碰撞保護——避免碰撞,減少維修成本。
9. 整合溫度傳感器——溫度變化時對誤差進行補償
10. 配有遠程診斷功能——使服務停機時間大大降低。
11. 采用高分辨率光柵系統(tǒng)—— 系統(tǒng)分辨率高達0.005um, 保證了機器精準定位及高重復性
12. 可配備多測頭系統(tǒng)(傳統(tǒng)測頭、光學非接觸式測頭、接觸式粗糙度測頭)——滿足多種測量精度要求,實現其通用性。
13. 可作為齒輪檢測中心——直徑達1150mm。
14. XT選項——為15-30℃之間的測量提供高精度和可靠性。
產品參數
型號 | 行程范圍(mm) | 外形尺寸(mm) |
5.4.3 | 500*400*300 | 1405*950*2087 |
7.7.5 | 700*700*500 | 1610*1250*2601 |
10.7.6 | 1000*700*580 | 1910*1250*2773 |
12.9.7 | 1200*900*690 | 2500*1560*3073 |
15.9.7 | 1500*900*690 | 2800*1560*3073 |
20.9.7 | 2000*900*690 | 3300*1560*3073 |
15.12.10 | 1500*1200*900 | 2900*1860*3422 |
22.12.10 | 2200*1200*900 | 3650*1860*3422 |
30.12.10 | 3000*1200*900 | 4450*1860*3512/3422 |
40.12.10 | 4000*1200*900 | 5450*1860*3662/3572 |
45.12.10 | 4500*1200*900 | 5950*1860*3662/3572 |
30.15.10 | 3000*1500*900 | 4450*2160*3662/3572 |
26.15.14 | 2600*1500*1210 | 3950*2160*4545/4455 |
33.15.14 | 3300*1500*1210 | 4650*2160*4545/4455 |
MPEE:自1.1起