日本Hanwa-HED-G5000全自動(dòng)HBM/MM/Latch-up測(cè)試機(jī)、HANWA ESD測(cè)試機(jī)
全自動(dòng)芯片ESD測(cè)試設(shè)備產(chǎn)品概要:
HANWA新一代G5000系列ESD 全自動(dòng)靜電破壞檢測(cè)機(jī)已上市,搭載多Pin腳無繼電器的GND模組(Z高支持MAX2048pin),全不受寄生電容的影響,實(shí)現(xiàn)高精度檢測(cè)。此設(shè)備是符合日本及國際標(biāo)準(zhǔn)的高可靠性設(shè)備 (滿足JEITA / ESDA / JEDEC規(guī)格)可用于閂鎖測(cè)試,并適用脈沖電 流法·電源過電壓·ESD脈沖印加法。汽車電子AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn),車規(guī)級(jí)集成電路可靠性靜電HDM/CDM測(cè)試。
技術(shù)優(yōu)勢(shì):
1、適應(yīng)以下國際標(biāo)準(zhǔn)波形: JEDEC,ESDA,AEC和JEITA。
2、該系統(tǒng)特別的短路放電電路可通過其原始機(jī)械設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)。
3、短路Z大限度地減少電感和電容對(duì)數(shù)據(jù)的影響。
4、使用單個(gè)電路可確保每個(gè)器件引腳的數(shù)據(jù)穩(wěn)定性。
全自動(dòng)芯片ESD測(cè)試設(shè)備主要應(yīng)用:
芯片靜電破壞自動(dòng)測(cè)定裝置。