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G5000系列全自動芯片ESD測試設(shè)備價格

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面議

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱南京芯測軟件技術(shù)有限公司
品牌
型號HED-G5000
所在地南京市
廠商性質(zhì)其他
更新時間2024/12/16 6:10:53
訪問次數(shù)55

產(chǎn)品標(biāo)簽:

在線詢價收藏產(chǎn)品進(jìn)入展商展臺

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公司介紹主營產(chǎn)品

南京芯測軟件技術(shù)有限公司，專業(yè)打造半導(dǎo)體晶圓級測試及芯片檢測等系統(tǒng)集成平臺。公司致力為客戶提供半導(dǎo)體測試設(shè)備國產(chǎn)化改造，以及系統(tǒng)集成的一站式平臺服務(wù)。公司的目標(biāo)是成為國內(nèi)晶圓級在片測試，器件測量系統(tǒng)軟件、硬件的先進(jìn)供應(yīng)商，以滿足國內(nèi)用戶需求，開發(fā)半導(dǎo)體測試設(shè)備和系統(tǒng)集成軟件定制化服務(wù)。

南京芯測的在專注于在片測試系統(tǒng)設(shè)備經(jīng)銷與晶圓在片測試軟件的研發(fā)。涉及的設(shè)備包括：手動探針臺、半自動探針臺、全自動探針臺、硅光探針臺、射頻探針臺、高低溫探針臺、除此之外涉及經(jīng)銷芯片ESD測試系統(tǒng)、封裝及工藝檢測設(shè)備等。我們服務(wù)的領(lǐng)域涵蓋半導(dǎo)體晶圓級在片測試、射頻微波器件測量，大功率器件測試、微組裝封裝工藝檢測、失效分析、材料測試等應(yīng)用行業(yè)

展開顯示更多內(nèi)容

探針臺，芯片ESD測試設(shè)備，TLP測試設(shè)備，CDM測試設(shè)備

產(chǎn)品簡介在線詢價

Hanwa ESD HED-G5000 全自動芯片ESD測試設(shè)備近年來，自動駕駛技術(shù)逐漸成為Tier1汽車電子智能系統(tǒng)的技術(shù)，解決自動駕駛技術(shù)的關(guān)鍵在于提升自動駕駛芯片的可靠性，保障汽車運(yùn)行中的安全。目前國內(nèi)尚未有關(guān)于汽車芯片可靠性的標(biāo)準(zhǔn)，而是基于國際AEC-Q100系列標(biāo)準(zhǔn)而進(jìn)行汽車芯片可靠性測試，其中一環(huán)節(jié)就是要對汽車芯片進(jìn)行CDM和HBM的靜電相關(guān)測試。

G5000系列全自動芯片ESD測試設(shè)備價格產(chǎn)品信息

日本Hanwa-HED-G5000全自動HBM/MM/Latch-up測試機(jī)、HANWA ESD測試機(jī)

全自動芯片ESD測試設(shè)備產(chǎn)品概要：

HANWA新一代G5000系列ESD 全自動靜電破壞檢測機(jī)已上市，搭載多Pin腳無繼電器的GND模組（Z高支持MAX2048pin），全不受寄生電容的影響，實現(xiàn)高精度檢測。此設(shè)備是符合日本及國際標(biāo)準(zhǔn)的高可靠性設(shè)備（滿足JEITA / ESDA / JEDEC規(guī)格）可用于閂鎖測試，并適用脈沖電流法·電源過電壓·ESD脈沖印加法。汽車電子AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)，車規(guī)級集成電路可靠性靜電HDM/CDM測試。

技術(shù)優(yōu)勢：

1、適應(yīng)以下國際標(biāo)準(zhǔn)波形: JEDEC，ESDA，AEC和JEITA。
2、該系統(tǒng)特別的短路放電電路可通過其原始機(jī)械設(shè)計實現(xiàn)。
3、短路Z大限度地減少電感和電容對數(shù)據(jù)的影響。
4、使用單個電路可確保每個器件引腳的數(shù)據(jù)穩(wěn)定性。

全自動芯片ESD測試設(shè)備主要應(yīng)用：

芯片靜電破壞自動測定裝置。