LS 13 320 XR 采用的 PIDS 技術，為您提供的粒度分布數據，讓您能夠進行高分辨率的測量并擴展動態范圍。如同 LS 13 320，XR 分析儀提供快速、精準的結果，并幫助您簡化工作流程從而達到效率。一些重大改進可讓您更容易察覺到細微差異，而正是這些細微的差異才會對您的粒度分析數據產生重大影響。
直接測量范圍在 10 nm – 3,500 µm 之間
自動突出顯示合格/不合格結果從而達到更快速的質量控制
增強版軟件簡化了標準測量方法的創建
全新 控制標準充分驗證儀器/模塊的性能
功能
發現細微差異
擴展測量范圍：10 nm – 3,500 µm
激光衍射加上的偏振光強度差散射 (PIDS) 技術可實現高分辨率的測量并可報告最小為 10 nm 顆粒的真實數據
可在單個樣品中提供針對多種粒度的準確、可靠的檢測
易于使用的軟件
ADAPT 軟件可自動進行合格/不合格檢查
只需 3 步或更少，預配置方法即可呈現結果
簡化專家及新手的分析儀操作流程
一步覆蓋歷史數據
直觀的用戶診斷可在取樣過程中時刻對您進行提醒
簡化標準測量的方法創建流程
ADAPT 軟件符合《美國聯邦法規》第 21 章第 11 部分的規定
可自定義的安全系統滿足多元化需求
可選擇 4 種不同的安全級別
高級別的安全配置符合《美國聯邦法規》第 21 章第 11 部分的規定
PIDS 技術可直接檢測大小為 10 nm 的顆粒
用3 種波長的光（450、600 及 900 nm）通過垂直和水平偏振光照射樣品
分析儀從多角度測量來自樣品的散射光
每種波長的水平及垂直輻射光之間的差異提供了高分辨率的粒度分布數據
